株式会社イノテック
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製品情報 (計測システム)Product Information
照明ムラ除去粒子計測ソフト
QuickGrain Pad+
粒子情報の抽出時に、照明のムラがあった場合、従来の画像処理方法では、
よい結果を出す事が困難でした。
今まではこのような場合、撮影環境を調整する事により、よりよい結果を
出すしか方法がありませんでした。
しかし、撮影環境を調整する事は素人ではなかなか難しい事です。
毎回同じ撮影環境に設定する事はプロでも容易ではありません。
「素人でも簡単に」をコンセプトに、難しい設定をしないでも、
照明ムラがある場合での画像処理がＱｕｉｃｋＧｒａｉｎ Ｐａｄ＋では可能になりました。
（特許取得:3909604）
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左の画像は照明ムラのある画像 です。 左上が明るく、右下が暗いのがよく分かります。 |
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『従来の粒子抽出方法』 ①画像はRGB（赤・緑・青）の情報 (0～255までの数値)により構成 されています。 １枚の画像に含まれるRGBの分布 を取得します。(左のグラフ) ②この分布の、任意の範囲（閾値）に含る 画素数を抜き出し、粒子情報の計算を行い ます。 |
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従来の画像処理技術では、右上の粒子情報を取得すると、 左下の粒子情報が全く取得出来ません。 |
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特許フィルタを使用すると、左図 の様に画像の左上から、右下までが 抽出できている事が分かります。 この設定で粒子を抽出した結果は 下の画像になります。 |
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